IR表面绝缘阻抗测试通过在印刷电路板(PCBA板)上将成对的电极交错连接成梳形电路(Pattern),并印上锡膏,然后在一定高温高湿的环境下持续地给予一定偏压(BIAS VOLTAGE),经过一定长时间的试验(如24小时、48小时、96小时、168小时)后,观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。
采用合适的统计方法对测试数据进行处理和分析,以评估SIR测试的可靠性。例如,可以采用平均值、标准差等统计指标来分析测试数据。
测试标准如IPC-TM-650等,为SIR测试提供了详细的指导和规范,确保测试结果的统一性和可比性。
针对不同材料和工艺,如NiAu、HASL等,SIR测试需调整测试条件,以准确反映其绝缘性能。