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光学干涉测量技术在精密加工中的应用：光学干涉测量技术利用光的干涉原理，通过测量光波在物体表面反射或透射时产生的干涉图样，来测定物体的形状、表面粗糙度等参数。该技术具有高灵敏度和非接触测量的优点，在光学元件加工、半导体制造、微纳米加工等领域得到广泛应用，推动了这些领域向更和更复杂结构的发展。

形位公差在机械制造业中具有广泛的应用，它直接关系到产品的精度、互换性和使用寿命。合理的形位公差设计可以确保零件在装配和使用过程中能够保持正确的位置和形状关系，从而提高产品的整体性能和可靠性。同时，形位公差的检测也是质量控制的重要环节之一，通过的测量和检验可以及时发现并纠正生产过程中的偏差和问题。

直尺测量：使用直尺或卷尺等工具直接对准待测尺寸的两个端点，读取刻度值以获取尺寸大小。这种方法简单直接，适用于简单的线性尺寸测量。
游标卡尺测量：游标卡尺是一种精密测量工具，用于测量长度、宽度和深度等尺寸。其测量精度一般可达到0.01毫米，适用于各种形状的尺寸测量，尤其适用于小尺寸的测量。
千分尺测量：千分尺的测量精度更高，一般可达到0.001毫米，适用于各种形状和大小的精密尺寸测量，尤其适用于微小尺寸的测量。