SEM+EDS检测成分分析

来源：优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司 时间：2024-05-13 06:30:52 [举报]

EDS： 入射电子束可停留在被观察区域上的任何位置.X射线在直径1微米的体积内产生,可对试样表面元素的分布进行质和量的分析。

扫描电镜分析（SEM+EDS)可实现金属、陶瓷、半导体、聚合物、复合材料等几乎所有固体材料的表面形貌、断口形貌、界面形貌等显微结构分析，借助EDS还可进行微区元素含量分析

扫描电镜测试的过程包括以下几个步骤：
1）样品准备：根据测试目的选择合适的样品，并进行表面处理，如清洗、干燥等。
2）安装与调试：将样品安装在扫描电镜测试设备的样品台上，并进行设备的调试和校准，以确保测试结果的准确性。
3）数据采集与处理：通过扫描电镜设备采集样品的表面形貌和微观结构图像数据，并对数据进行处理和计算，得到样品的各种参数和性能指标。
4）结果分析与评估：根据测试数据，对样品的表面形貌和微观结构进行分析和评估，包括形貌特征、尺寸分布、晶体结构等。

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