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  • 导电阳极丝测试-武汉SIR表面绝缘阻抗测试CNAS资质

    来源:优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司 时间:2024-05-17 03:50:49 [举报]

    SIR测试对测试样品、测试条件均有要求,测试图形几何形状的差异可能会导致测量结果出现1次方的差异,线宽、线距、测试条件对测量结果有直接的影响,需根据实际应用的产品来设计。

    目的: 离子迁移测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题。给电路施加一定电压,通过测试电路的电流大小,来计算出电阻值,并记录电阻值随时间变化情况。这些失效通常是由于材料的交互性,工艺控制上的疏忽,或者材料本身特性不能达到用户所需要的性能。通过加速温湿度的变化,SIR能够测量测试在特定时间内电流的变化。

    导电阳极丝(CAFs)现象和其他电化学迁移的不一样的地方如下:Conductive AnodicFilaments

    (1 )迁移的金属是铜,不是铅或锡。

    (2) 导电阳极丝是从阳极向阳极方向生长。

    (3) 导电阳极丝是由金属盐类构成的,而不是由中性金属原子构成的。

    标签:pcb表面绝缘阻抗测试,SIR表面绝缘阻抗测试

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