来源:优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司 时间:2024-11-17 01:11:05 [举报]
优尔鸿信(原富士康科技集团华南检测中心)成立于1996年,是一家全国性、综合性的立第三方检测服务机构。在深圳、昆山、武汉、郑州、烟台、成都、重庆等全国主要城市设有实验室22个,主要检测仪器4300余台,拥有2200人的管理、技术人员团队
扫描电镜(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一种高分辨率的电子显微镜技术,可用于对形貌和表面特征进行分析和观察。相比于传统的透射电镜,SEM不需要样本薄片,可以直接对样品进行观察,因此适用于分析各种形状和大小的样品。 SEM分析过程中,样品表面被电子束轰击后,会产生二次电子和背散射电子。这些电子会被探测器捕捉并转换为电信号,形成图像。SEM图像具有高分辨率和高对比度,可以显示出样品表面的微观结构和形貌特征
优尔鸿信昆山检测中心 材料测试实验室主要功能:
1. SEM+EDS分析
2. 3D X-RAY检测&断层扫描分析
3. 超声波扫描(C-SAM)分析
4. 切片(Cross Section)分析
5. 红墨水(Dye&Pry)分析
6. 焊点推拉力(Bonding Test)
7. 芯片开封测试(IC-Decapping)
8. 沾锡能力测试
9. 离子浓度测试
10. 表面绝缘阻抗(SIR)测试
场扫描电镜对样品要求,如下:
1.样品要尽可能干燥,若样品中含有水份,水分挥发会造成仓内真空度急剧下降,导致图像漂移,有白色条纹,甚至会影响灯丝寿命;
2.热稳定性好,热稳定性差的样品往往在电子束的轰击下分解,释放气体和其他物质,污染电镜;
3.导电性好,导电性差的样品会发生荷电效应,造成图像畸变,亮点亮线,像散等;
4.不含强磁性,强磁性的样品观察一般会出现严重的像散,无法消去,磁性粉末如果粘的不牢固还可能会吸附到探头上,损害电镜
扫描电镜分析(SEM+EDS)可实现金属、陶瓷、半导体、聚合物、复合材料等几乎所有固体材料的表面形貌、断口形貌、界面形貌等显微结构分析,借助EDS还可进行微区元素含量分析
扫描电子显微镜(扫描电镜SEM):一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
标签:成分分析,形貌观察和成分分析,电镜分析,SEM分析