离子迁移测试SIR表面绝缘阻抗测试一份报告通

来源：优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司 时间：2024-06-26 07:03:12 [举报]

SIR测试是通过施加一定的电压和温度条件，在一定时间内测量电路板表面绝缘阻抗的变化来评估其绝缘性能，测试中通常使用的电压为100v，温度为40℃，持续为一小时，测试前需要将电路板进行预处理，包括清洗，干燥和加热退火等步骤，以确保测试结果的准确性

IR表面绝缘阻抗测试通过在印刷电路板（PCBA板）上将成对的电极交错连接成梳形电路（Pattern），并印上锡膏，然后在一定高温高湿的环境下持续地给予一定偏压（BIAS VOLTAGE），经过一定长时间的试验（如24小时、48小时、96小时、168小时）后，观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。

优尔鸿信检测技术（深圳）有限公司（原富士康华南检测中心）成立于1996年，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程中的检测需求组建科技实验室，创始团队汇集科技、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神，在一张白纸上点石成金。优尔鸿信检测迄今发展成目大功能22个的实验室，占地6.6万平方米，主要检测设备4300余台(套) ， 拥有1500人的管理、技术人员团队，打造了一个提供快速、精密、准确检测能力、服务网络遍及全国的大型旗舰实验室。于2003年取得中国国家合格评定(CNAS) 的初次认可。实现『一份报告、通行』

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