来源:优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司 时间:2024-05-19 03:46:25 [举报]
扫描电镜(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一种高分辨率的电子显微镜技术,可用于对形貌和表面特征进行分析和观察。相比于传统的透射电镜,SEM不需要样本薄片,可以直接对样品进行观察,因此适用于分析各种形状和大小的样品。 SEM分析过程中,样品表面被电子束轰击后,会产生二次电子和背散射电子。这些电子会被探测器捕捉并转换为电信号,形成图像。SEM图像具有高分辨率和高对比度,可以显示出样品表面的微观结构和形貌特征
优尔鸿信检测技术昆山检测中心 SEM+EDS分析测试范围
1.IMC检查(IMC Inspection)
2.锡须观察(Tin Whisker Inspection)
3.元素分析(Element Analysis)
4.金属颗粒观察(Observation of metal particles)
SEM+EDS主要检测范围
1.表面微观结构观察及微小颗粒物尺寸量测
2.微薄镀层厚度测量
3.表面失效分析(异色、腐蚀、损伤等检测);
4.表面相分析、夹杂物鉴别等;
5.金属断口分析;
6.焊接或合成界面分析;
7.锡须观察
标签:形貌观察,成分分析,SEM分析,IMC观察