离子迁移测试-淮安优尔鸿信SIR表面绝缘阻抗测试

来源：优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司 时间：2024-05-14 04:12:18 [举报]

SIR测试是表面绝缘电阻测试的简称，主要用于评估印制电路板、组件表面及周围相邻线路区域的表面清洁度（包括加工、制造过程的残留）对表面绝缘电阻的影响；评估产品使用物料（助焊剂、锡膏、阻焊膜等）的耐SIR能力及等级。

原理：在高温高湿状态且施加电压环境下，样品表面的残留离子、水份形成电解液，在电势差的作用下阳离子向阴极转移并沉积析出形成枝晶，从而导致绝缘电阻下降或短路。

SIR测试对测试样品、测试条件均有要求，测试图形几何形状的差异可能会导致测量结果出现1次方的差异，线宽、线距、测试条件对测量结果有直接的影响，需根据实际应用的产品来设计。

导电阳极丝是一种由于电化学反应导致的失效类型，这种失效模式是PCB内部的一种含铜的丝状物从阳极向阴极方向生长而形成的阳极导电形细丝物，简称CAF。CAF的形成是由于玻纤结合的物理破坏，在潮湿的环境下导致玻纤分离界面中出现水介质，从而提供了电化学通道，促进了腐蚀产物的输送。

导电阳极丝(CAFs)现象和其他电化学迁移的不一样的地方如下：Conductive AnodicFilaments

(1 )迁移的金属是铜，不是铅或锡。

(2) 导电阳极丝是从阳极向阳极方向生长。

(3) 导电阳极丝是由金属盐类构成的，而不是由中性金属原子构成的。
SIR是一个测定基材表面两个金属导体间导电性方法。为了让一个绝缘电路板表面的导电电极间产生电化学移动，同时具备以下三个条件：

（1）有电荷载体（如离子）存在；

（2）有水存在以溶解离子物质，并维持离子物质在移动离子状态；

（3）在两个电极有电压以促成水层中的电子流。

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