来源:优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司 时间:2024-07-01 01:58:55 [举报]
自从晶体管,线路板的诞生之日开始表面阻抗测试SIR/离子迁移测试就成为一个常见的测试工具,我们可以用此工具进行以下的测试:来料检验,材料特性检测和验证,失效分析,品质一致性检查,产品寿命的预测分析等。
离子迁移现象是由溶液和电位等相关电化学现象引起的,尤其是在高密度电子产品中,材料与周围环境相互影响,导致离子迁移现象发生。
因CAF产生的条件是处于有金属盐类与潮湿并存的情况下,由于电场驱动,离子沿着玻璃纤维与树脂界面迁移而发生。
因此,根本的措施是让玻璃纤维与树脂界面致密而牢固地结合在一起,不存在任何隙缝。同时,降低树脂的吸水率,进一步提高材料的耐CAF能力。
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