关键词 |
SEM+EDS测试,形貌观察,成分分析,EDS分析 |
面向地区 |
全国 |
SEM+EDS分析:
高能电子束轰击样品表面,激发各种信号。可以对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察及成分分析:
SEM主要利用背散射电子(BEI)和二次电子(SEI)来成像
EDS通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。
优尔鸿信检测技术昆山检测中心 SEM+EDS分析测试范围
1.IMC检查(IMC Inspection)
2.锡须观察(Tin Whisker Inspection)
3.元素分析(Element Analysis)
4.金属颗粒观察(Observation of metal particles)
扫描电子显微镜(扫描电镜SEM):一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
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