关键词 |
pcb表面绝缘阻抗测试,SIR表面绝缘阻抗测试 |
面向地区 |
全国 |
原理:在高温高湿状态且施加电压环境下,样品表面的残留离子、水份形成电解液,在电势差的作用下阳离子向阴极转移并沉积析出形成枝晶,从而导致绝缘电阻下降或短路。
自从晶体管,线路板的诞生之日开始表面阻抗测试SIR/离子迁移测试就成为一个常见的测试工具,我们可以用此工具进行以下的测试:来料检验,材料特性检测和验证,失效分析,品质一致性检查,产品寿命的预测分析等。
在导电阳极丝(CAF)生长中,在锡/铅焊料下面的铜基底金属是金属离子的主要来源,该金属离子会在阳极产生电化学反应并沿着玻璃树脂界面进行迁移。在导电阳极丝(CAF)生长中,常见的阴离子是氯离子(可通过SEM扫描电镜/EDX能量色散X荧光光谱仪来测定),溴离子也可能被观测到。测试模型依靠于对温度,相对湿度和电压的失效率来研发(见参考文献11)。导电阳极丝(CAF)的形成可通过较低的电压如50V的直流电来观测。
主营行业:检测服务 |
公司主营:零件清洁度测,可靠性及量测,声压级声功率检测,材料检测--> |
主营地区:深圳、昆山、成都、武汉、烟台、郑州等 |
企业类型:有限责任公司 |
公司成立时间:1996-01-01 |
员工人数:1000 人以上 |
研发部门人数:201 - 300 人 |
经营模式:服务型 |
经营期限:1949-01-01 至 2032-01-01 |
最近年检时间:2022年 |
是否提供OEM:否 |
公司邮编:215300 |
公司电话:0512-57785888-76633 |
公司邮箱:youerhx_ksmarket@126.com |
公司网站:cmc.foxconn.com |
全国SIR表面绝缘阻抗测试热销信息