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几何误差修正
几何误差是由于机器部件的磨损、定位误差或制造误差导致的。通过使用修正程序，可以纠正这些误差，从而提高测量精度。修正程序通常包括对机器运动的线性度、角偏差和重复定位精度的测量和调整。
校验测头：将测头的直径误差控制在-3个微米以内，形状误差控制在正负3个微米以内。
设立基准：先测工件的一个平面设为基准平面A，再测一条线设为基准B，再测一个点作为基准C
激光测距技术：在现代工业与科研领域，激光测距技术已成为不可或缺的工具。该技术利用激光束的直线传播特性和极小的发散角，实现非接触式测量，精度可达微米级甚至纳米级。无论是测量大型建筑结构的尺寸，还是精密机械部件的微小位移，激光测距仪都能提供准确无误的数据，为质量控制和工艺优化提供坚实支撑。
纳米级扫描电子显微镜（SEM）探索微观世界：扫描电子显微镜利用聚焦电子束在样品表面扫描，激发二次电子等信号来成像，其分辨率可达到纳米级，甚至亚纳米级。在材料科学、生物医学、半导体技术等领域，SEM成为研究微观结构、表面形貌和化学成分的重要工具，为精密量测和科学研究开辟了全新的视角。
形位公差通常通过特定的符号和数值来表示，这些符号和数值被标注在零件图纸上，以指导生产和检验。例如：
直线度：用符号“┬”表示，并在其后面标注公差值，如“┬0.01”表示直线度公差为0.01mm。
同轴度：用符号“◎”表示，并在其后面标注公差值，如“◎0.05”表示同轴度公差为0.05mm。
位置度：用符号“⊕”表示，并配以相应的基准和公差框格，如“⊕Φ0.1 A-B-C”表示某要素的位置度公差为Φ0.1mm，且以A、B、C三个基准面为基准。
公差原则是正确处理尺寸公差与形位公差之间关系的规定。常见的公差原则包括：
立原则：尺寸公差与形位公差彼此无关，分别满足各自的要求。
包容要求：用于单一要素，表示实际要素应遵守大实体边界，其局部实际尺寸不得超出小实体尺寸。
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